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描 述：
瑞利散射规律是由英国物理学家瑞利勋爵（Lord Rayleigh）于1900年发现的，因此得名。 为了要符合瑞利散射的要求，微粒的直径必须远小于入射波的波长，通常上界大约是波长的1/10（1-300 nm），此时散射光线的强度与入射光频率的四次方成正比，也就是说，频率愈高，散射愈强。 另外，散射的光线在光线前进方向和反方向上的程度是相同的，而在与入射光线垂直的方向上程度最低 |
原 理：
1）尺度数α 散射的程度变化是粒子半径（r）与辐射频率（f）比例的函数，连同许多其它因子，像极化、角度、以及相干性等等。因此常引用无量纲尺度数α = 2πr/λ = 2πrf/c作为判别标准： 当α远小于0.1时，可用瑞利散射； 当α≥0.1 时, 需用米散射； 当α>50 时, 可用几何光学。 |
2）变化规律 图1给出水滴的散射效率因子随尺度数α变化的曲线。 从图1中可以看出，当α很接近0时，散射效率因子随α增长很快，这是瑞利散射的特征。对一同一类散射粒子（例如空气分子），因为半径r是固定的，则α的加大意味着频率f的升高。 散射效率因子随着α的增长表明了较高频率的光散射比较低频率的强。 |
原 理：
一个完美控制的激光束能够准确地散射于一个微粒，产生出命定性的结果。这样的状况也会发生于雷达散射，目标大多数是宏观物体，像飞机或火箭。 许多科技领域显著地应用到散射和散射理论。例如，半导体芯片检验、聚合过程监视、电脑成像等等。 |
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